集成电路PCT高压加速老化试验箱

艾思荔集成电路PCT高压加速老化试验箱精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h。自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，安全门把设计，箱内有大于常压时测试们会被反压保护。

集成电路PCT高压加速老化试验箱产品的技术性能:

1.温度范围:＋100℃～＋135℃。

2.温度波动度:±0.5℃。

3.温度均匀度:±1.5℃。

4.湿度范围:100%R.H饱和蒸气。

5.湿度波动度:±1.5%R.H。

6.湿度均匀度:±3.0%R.H。

7.压力范围：

u相对压力：+0～4kg/cm2。

u锅内压力：+0～2.8kg/cm2。

U jue对压力：1.0kg/cm2～3.0kg/cm2。

u安全压力容量：4kg/cm2＝1个大气压＋3kg/cm2。

8.循环方式:水蒸气自然对流循环。

9.测时间设置：0～999Hr。

10.加压时间：0.00kg/cm2～2.00kg/cm2约45分钟。

12.升温时间:由100℃升至＋132℃约10分钟非线性空载。

13.温度变化速率为空气温度平均变化速率,而非产品温度变化速率

集成电路PCT高压加速老化试验箱产品特点:

1.圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中结露滴水设计。

2.圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。

3.型packing，箱内压力愈大时，packing会有反压会使其与箱体更紧密结合，与传统挤压式不同，可延长packing寿命。

4.实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(partical<1micorn)。以确保箱内之纯净度。

5.临界点LIMIT方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示。

集成电路PCT高压加速老化试验箱检验保证：

    集成电路PCT高压加速老化试验箱的质量管理是一项用肉眼看不见的重要工作，于是本在所生产出来的大型集成电路PCT高压加速老化试验箱生产出来后，经内部调试、检验正常后，都会请第三校准单位进行上门校准，合格后、出取证书。

集成电路PCT高压加速老化试验箱产品用途:

    集成电路PCT高压加速老化试验箱又称为高压加速老化试验机，适用于国防、、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，测试其制品的耐厌性、气密性。