半导体HAST高压加速老化试验箱

半导体HAST高压加速老化试验箱

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2023-10-21 16:13
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半导体HAST高压加速老化试验箱 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆 临界点LIMIT方式自动An全保护,异常原因与故障指示灯显示。利型packing,箱内压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式不同,可延长packing寿命。
半导体HAST高压加速老化试验箱技术参数:
型 :HAST-35  HAST-45  HAST-55  HAST-65  
内箱尺寸(㎝):Φ35×45  Φ45×55  Φ55×65  Φ65×75
温度範围:100℃~135℃
湿度範围:100%RH饱和蒸汽
压力範围: 大气压+0~4㎏/cm2  大气压+0~4㎏/cm2  大气压+0~4㎏/cm2   大气压+0~4㎏/cm2
参考标準:依据国标、行业标準等
备註:可根据客户要求定制相应尺寸
半导体HAST高压加速老化试验箱产品特点:
1.试验过程自动运转至完成结束、使用简便。
2.双重过热保护装置,当锅内温度过高时,机器鸣叫警报并自动切断加热电源
3.ED数字型温度控制器可作Jing确试验温度之设定、控制及显示,PID控制误差±0.1℃。
4.ED数字型计时器,当锅内温度到达后才开始计时以确保试验。
5.Jing准的压力、温度对照显示。
6.运转时流水器自动排出未饱和蒸汽以达到佳蒸汽品质。
7.试验过程中水位不足时能自动补充水位之功能,试验不中断,确保使用An全。
8.锅内An全装置,锅门若未关紧则机器无法启动。
9.An全阀,当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。
10.门盖保护,ABS材质製成可防止操作人员接触烫伤。
11.一体成型硅胶门垫圈,气密度良好,且使用寿命长。
半导体HAST高压加速老化试验箱注意事项:
1、在无试验负荷、无层架情况下稳定30分钟后测定的性能。
2、关于温度上升及下降时间是指风冷式在周围环境温度为26℃±5℃,时所测量的性能。
3、温湿度传感器设置于空调箱出风口处。
4、温湿度均匀度定义为:实验室几何中心点处,温湿度时的所测之资料。
5、以上数据性能,测量,计算方法参照GB5170、2、GB5170、5的方法测定。
半导体HAST高压加速老化试验箱产品用途:
    半导体HAST高压加速老化试验箱又称高压加速老化试验机,广泛应用于线路板,多层线路板,IC,CD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其製品的耐厌性,气密性。

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