miniled光电特性测试数字源表

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测试范围:
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测试精度:
Array
工作环境:
25±10℃

利用数字源表进行Mini  LED光电特性测试
实施Mini  LED光电特性参数的最佳工具之一是数字源表(U)。数字源表作为的恒压源或恒流源,输出恒压或恒流、还可以当作表,进行电压或者电流测量;支持Trig触发,可实现与光谱仪,探针台,分选机等第三方设备联动工作。


目前,光电性能检测是通过Mini  LED点测机实现的,用于测量晶圆上每一颗芯片。点测机的主要结构单元包括探针台,电性能测试单元,光性能测试单元,以及上位机控制系统等。该工序根据实际情况,位于晶圆划片前,或者后工序。设备基本构成主要包括探针台,电子显微镜,U,ESD,工控机,积分球,光谱仪等。其中,U的作用是对芯片进行IV特性测试,同时在光学测试中,对芯片进行供电。

常用的电性能测试项目包括,
V
F1,VF2,IR,VZ,VFD,DVF等。
⑴ VF(正向电压)测试, FIMV: 一般会测两个点, 第一个点VF1 LED刚点亮时电压, 第二个点VF2LED 正常工作时的电压;
⑵  VZ(反向击穿电压)测试, FIMV:一定反向电流时,器件两端的电压;
⑶  IR(反向泄露电流)测试, FVMI: 一定反向电压时,  流过器件的电流;
⑸  DVF 测试,材料热缩效应测试, FIMV:  对LED施加两次不同的电流,并计算不同条件下的电压差;
⑹  VFD 测试,正向电压暂态峰值电压测试, FIMV:  对LED施加一定的正向电流,同时采集电压变化, 尖峰电压与正常电压的差值即为VFD 

miniled光电特性测试数字源表认准生产厂家武汉普赛斯仪表,详询一八一四零六六三四七六;武汉普赛斯一直于半导体,LED,激光器的光电性能测试仪表,基于核心算法和系统继承等技术平台优势,率先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、窄脉冲源表、集成插卡式源表,Mini  LED源表测试系统等产品,广泛应用在半导体,LED,激光器等产品的生产、研发、测试场景。可够根据用户的需求提供高性能,高效率,高性价比的半导体,LED,激光器测试系统级解决方案。



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