IC卡动态弯曲双向扭试验机用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。
IC卡动态弯曲双向扭试验机简介:本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1,国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 完全符合以上标准。
IC卡动态弯曲双向扭试验机技 术 参 数
1. 型号:MX-IC
2. 扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
3. 正反向各15°,总扭曲角度30°
4.測試周期:1~9999次
5.測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
6.长边最大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)
7.长边最小位移量为2mm±0.50mm
8.短边最大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)
9.长边最小位移量为1mm±0.50mm
10.電 壓:AC220V±5%
11.外形尺寸:L670 X W380 X H220
12.功 率:35W
13.儀器重量:70kg
根据客户要求订制:双向扭转最大工位数:10工位