日立分析仪器X-Strata920是一种高科技解决方案，能够应对各种镀层厚度和材料分析挑战。它将大面积正比计数探测器和微聚焦X射线管相结合，可实现同类产品中的佳准确度。
但是，准确度仅是您选择适合您业务设备的部分原因。选择X-Strata920，还有其它一些主要原因。
直观的软件
专门设计用于提高质量标准和提升业务优势的设备应具备操作简单的特点。对任何人而言，深入探究复杂的用户培训资源并不实用。X-Strata920采用扩展版Smartlink平台，旨在简化日常分析流程，使受训较少的操作人员也能像专业技术人员那样有所收获。由于直观操作和强大分析功能的结合有助于提高能力和生产率，用户也同样受益颇丰。
从材料分析到3D绘图再到生成统计和报告，Smartlink解决了新旧应用测量方面的难题。
灵活
简单、灵活意味着X-Strata920能够在各种分析环境中工作，且用户只需接受少量培训。其关键部分之一便是校准设置。
X-Strata920已经过优化，能够适应成百上千种应用，包括PCB表面处理、连接器镀层处理、防腐处理、装饰表面处理、耐磨处理、耐高温处理等。
若无校准标准片，采用基本参数法也可获得简单、可靠的定量结果。这种方法可在数分钟内创建。
配置选项
X-Strata920能适应各种形状和尺寸的零件，小型零件和长而细的零件均适用。加深样品舱还能对较高零件进行快速、无损的测量。
样品台配置
标准的基座配置是开槽样品台，可完成从小型零部件到大型扁平印刷电路板（即使其超出仪表本身宽度）等各种样品的测量。加深样品台主要适用于较高样品，而程控样品台则能自动完成测量。即使无人监管操作，程控样品台仍能实现较高的样品处理量。
各种选装配置能确保用户在达到目标规格的同时能降低成本并减少耗时的过量镀层和返工。所有操作人员往往担忧该如何正确装载并定位样品。一旦将样品妥善放置，本品在数秒内便会显示结果，而且操作人员可以自由继续进行下一项任务。
选装这些配置，配合根据可溯源标准优化的校准性能，您可完全信任X-Strata920生成的结果。
探测器的选择
不过时的设备的重要性不言自明。拥有一台不断革新且适应您的操作的设备将长期为您节省大量资源。X-Strata920可选装两种探测器，一种是正比计数器，另一种是更的硅漂移探测器（SDD）。
正比计数器适合于准确、可靠的分析单元素镀层。而SDD则适合于多元素镀层的分析或者灵活的应对未来镀层结构的不断改变，它能够让您的分析与时俱进。SDD噪音小，不仅能检测极薄的镀层，而且能获得峰形完整的谱图。
可选语言
由于X-Strata920的相关软件提供11种可选语言，因此，操作员无需精通英语。通常我们的全球客户本身就是全球供应链的组成部分，因此，我们的业务重点是如何确保我们的解决方案易于使用。
应用专家
我们的应用专家分布在五个应用中心，他们共研发出1000多种镀层应用。我们的生产团队经验丰富，他们与客户维持合作并不断改进产品。我们还有全球服务网点，能够提供全面的技术支持。
无论您需要我们快速响应您的问题，还是在线进行深入诊断或是实施培训或预防性维护，我们的团队都能满足您的需求，确保您的分析仪在数年内仍能生成正确结果。
40年来，日立分析仪器始终是XRF镀层行业的领先企业，我们的产品包括FT系列、CMI系列、X-Strata系列、Eco系列、MAXXI系列等型号。我们的成功来源于我们对客户的了解，深谙准确度和可靠性必须与新技术发展同步。X-Strata920有着各种配置和校准模式，能实现这种同步。生产商可使用它快速、简单地保证其生产质量。
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