各种粒度测试方法的优缺点有哪些？
来源：网络 作者：网络转载 2019-10-10 阅读：237
（1）筛分法。优点：简单、直观、设备造价低，常用于大于40um的样品。缺点：结果受人为因素和筛孔变形影响较大。（2）显微镜（图像）法。优点：简单、直观，可进行形貌分析，适合分布窄（zui大和zui小粒径的比值小于10：1）的样品。缺点：代表性差，分析分布范围宽的样品比较麻烦，无法分析小于1um的样品。（3）沉降法（包括重力沉降和李新沉降）。优点：操作渐变，仪器可以连续运行，价格低，准确性和重复性较好，测试范围较广。缺点：测试时间较长，操作比较繁琐。（4）电阻法。优点：操作渐变可测颗粒数，等效概念明确，速度快，准确性好。缺点：不适合测量小于0.1um的颗粒样品，对粒度分布宽的样品更换小孔管比较麻烦。（5）激光法。优点：操作简便，测试速度快，测试范围广，重复性和准确性好，可进行在线测量和干法测量。缺点：结果受分布模型影响较大，仪器造价较高，分辨力低。（6）电子显微镜法。优点：适合测试超新颗粒甚至纳米颗粒，分辨力高，可进行形貌和结构分析，缺点：样品少，代表性差，测量易受人为因素影响，仪器价格昂贵。（7）光阻法。优点：测试便捷快速，可测液体或气体中颗粒数，分辨力高。缺点：不适用粒径小于1umde样品，进行系统比较讲究，仅适合对尘埃、污染物或已稀释好的药物进行测量，对一般粉体用的不多。（8）透气法。优点：仪器价格低。不用对样品进行分散，可测测性材料粉体。缺点：只能得到平均粒度值，不能测粒度分布；不能测小于5um细粉。（9）X射线小角散射法。用于纳米级颗粒的粒度测量。（10）光子相关谱法（动态光散射法）。用于纳米级颗粒的粒度测量。
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