1  校准

校准需要有下面几项东西：底材（形状和底材物料要与待测部件一致）和一片标准片(仪器随机的75 µm左右标准片)。 说明：校准将删除内存中的所有读数。

校准仪器（前提：仪器必须打开）

• 按 [CAL]键。
  显示 "base" (即 “未镀过的底材”)
• 在底材上测量五次左右.
  每次测量后，会显示当前的读数。 
• 按 [OK]键.  
  显示 0.00 和 STD1 (即校准标准片 # 1).
• 把校准标准片放在底材上，并测量5次左右。
  每次测量后，屏幕上会显示当前读数。
• 用 [5] 或 [6]键调整第4步的最后一个数值至标准片的标称值， 如“75 µm”。 标准片的标称值注明在标准片上。
• 按 [OK]键。
  完成校准程序. 仪器返回测量状态.

2  删除校准资料 / 恢复初始曲线

有时，如果经过校准后，仪器测量仍然不准确，则可以删除校准参数。如果先前的校准程序没有正确进行的话，就可能会发生这种情况。
在这种情况下，可以把特征曲线恢复到原始的出厂设定。

删除仪器的校准参数 （前提：仪器必须打开）

• 按[CAL]键. 屏幕上显示"base" (即 “底材”) .
• 在底材上测量5次左右.
• 按[OK]键. 显示 “STD1" (即校准标准片 # 1) .
• 在底材上测量1次.
  屏幕将显示0左右的读数.
• 用[5] 或 [6] 键将 STD1调整到 0.00 .
  屏幕将显示 “0.00   STD1” .

按 [OK] 键。恢复到初始的特征曲线。 
恢复完成。 仪器现在可以测量了。