步入式老化试验房由房体结构、控制系统、风道系统等组成。由温度控制器采集到试验室内部温度信号，发出指令使接触器、固态继电器等元器件相互配合来控制发热管、电能转化为热能使空气加热；然后通过风机将热空气传送至室内从而使温度升高，一般采用“下出上吸”的送风方式；当温度到达平衡点后利用PID自动调节技术调整固态继电器输出频率达到恒温的目的。老化房实际温度高于目标设定值时超温排风机开启将部分热空气排出室外，使试验室内的加热和热散失达到一种动态平衡，来达到恒温目的。
步入式老化试验房是针对高性能电子产品（如：计算机整机，显示器，终端机，车用电子产品，电源供应器，主机板、监视器、交换式充电器等）仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备。电子产品在生产制造时，因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题有两类，一是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；二是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行一千个小时左右才能全部被激活（暴露）。显然，对每只元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露。也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可的稳定期。
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