我们认为：既然镀膜设备是为镀膜生产服务的，那么我们设计制造的镀膜系统就必须适应用户的生产工艺，而不是让用户改变生产工艺来适应我们的镀膜机。------弗兰克泽蒙 在过去的15-20年中, 光学薄膜镀制设备出现了令人瞩目的变化。以前，一般的镀膜机都是纯人工操作，最先进的也只是半自动控制, 都必须依*高水平的操作人员来保证镀膜产品的一致性。而现在，高质量的光学镀膜机已经是一个集成了系列智能化模块（子系统）的全自动系统。这些智能模块（子系统）通常在多个微处理器的指令下结成局域网（LAN）, 而局域网又可并入整个工厂的自控系统。用户经验的不断增加使他们对设备性能的要求也越来越苛刻，以至于我们现在不难发现用户在购买镀膜机的同时，还要求厂家提供相关工艺技术。本文探讨的是当今光学镀膜系统中可采用的子系统及部件，以及镀膜工艺在部件选择和真空室配置等方面所起的决定性作用。 尽管其他技术日渐流行, 但鉴于物理蒸镀依然是目前适用性最强、应用最广泛的手段，因此本文中的讨论只涉及物理蒸镀技术。 I. 概述 长期以来, 人们主要依*蒸镀法来镀制用于精密光学和眼视光学的电介质薄膜。为加快基片的预清洁和薄膜生长过程中的改性，全世界数以千计的镀膜系统都采用电阻式热蒸发源和电子束蒸发源。一些系统还同时采用颇具动能的离子源，与前两者搭配使用。虽然用磁控溅射法镀制电介质薄膜在某些专业领域非常成功, 但由于生产成本居高不下，而且只能满足相对简单的工艺要求（溅射薄膜中的压力控制是过程限制参数），使得它的应用范围较窄，仅限于像建筑玻璃镀膜那样的高产量行业。同样，二次离子束溅射法的应用也仅限于那些要求沉积率越低越好的工艺如：环形激光回转仪，波长多路分配（WDM）滤波器。众所周知，多数的光器件的表面都是弯曲不平的，而蒸发所需的长距离同时有利于曲面镀膜的均匀。结合高沉积率，现代控制与自动化技术（尤其是石英晶体沉积速率控制器和实时光学监控），蒸发系统为多种光学薄膜的镀制提供了切实可行的解决方案。 无论是规格尺寸还是工作性能，制造现代化蒸发镀膜系统所需部件和模块（子系统）的可选性都是有限的。基本上我们可以将自动化、机械和控制三大部分地制造成本视为整个系统的固定成本，这是因为：1）这三部分的成本为系统成本的主要构成来源；2）而且不管系统大小，这三部分的成本基本不变。以上两个因素导致了系统制造成本与系统产能的反比关系。一般来讲，现代化蒸发系统的产能与制造成本呈几何量级的比例关系。 尽管镀膜系统制造厂家对此观点倍感欣慰，但如果从另一面来思考一下，我们就会发现一个同样显著的经济问题：即当价格降低时，系统产能发生大幅度下降，以至于系统的规格明显地小于最低标准尺寸（图1）。目前，一台内容积175L以上, 大抽速（空气抽速>1500升/秒），具有离子束辅助沉积功能（IBAD）的现代化镀膜设备的价值约为25万美金。估计近期很难出现重大技术突破来大幅度降低现有成本。在过去几年中，越来越多的用户要求镀膜系统制造厂家提供高性能的小规格、简便型光学镀膜系统，同时，用户对性能的要求不仅没有降低，反而有所提高，特别是在薄膜密度和保证吸水后光谱变化最小化等方面。现在，系统的平均尺寸规格已经在降低，而应用小规格设备进行光学镀膜的生产也已经转变成为纯技术问题。因此，选用现代化光学镀膜系统的关键取决于对以下因素的认真考虑：即，对镀膜产品的预期性能，基片的尺寸大小和物理特性以及保证高度一致性工艺所必需的所有技术因素。 II．光学性能 －公差三角形 证镀膜产品的一致性，我们在开发镀膜系统时一定要确保系统的各个方面相互匹配，这不仅包括设计、工艺和机械、预期的性能指标，还要考虑制造过程中出现的可预见误差。我们认为：既然镀膜设备是为镀膜生产服务的，那么我们设计制造的镀膜系统就必须适应用户的生产工艺，而不是让用户改变生产工艺来适应我们的镀膜机。但遗憾的是，现在使用的许多镀膜系统都是后一种情况，例如，有些生产线上正在使用的是为其它应用而设计的镀膜机，甚至有些时候是厂家先制造出镀膜机然后再去寻找应用客户。不管是何种情况，这样制造出的镀膜机都可能无法完全达到预期的功效，因而很难取得满意的结果。涉及到真空室的选择和确定，我们认为有以下三个方面需要考虑，而这些问题又都是与系统的制造公差有关。 输入 - 设计 镀膜机的设计如同一道菜谱，它规定出了膜层结构、厚度和折射率等指标。如果将以上设计指标严格复制到工艺/设备中，那么标准的输出结果就会达到预期的性能要求。 工艺 - 设备 在我们看来，工艺和设备也可以统称为按照设计输入实施标准输出功能的一个黑匣子。实际上，工艺包括设备硬件，控制软件和一组使机器实现设计要求的指令。在工艺/设备中存在着许多变量，而其中有些不可能被完全控制。这些不可完全控制的变量提高了系统的制造公差，降低了控制膜层厚度的能力，造成标准输出相对于设计的偏差。 输出 - 标准性能 归根到底标准性能输出才是真正最重要的。为了保证工艺的持久力，标准输出应在大多数时间内达到预期效果，即满足用户对薄膜光学性能和耐久性的具体要求。我们必须认识到以上三个因素是相互依存的，孤立地看待其中任何一个方面都是不对的，这一点非常重要。如果一个系统的设计和工艺/设备配合良好，那么不管制造公差如何，它都应该总是达到预期性能。然而，如果三个因素中的任何一方发生变化，就必须同时考虑调整其他另两个因素来保证整个系统的协调。例如，对系统工艺的升级会产生制造公差，而且系统越大产生的制造公差也就越大，这就需要改进设计或降低预期性能指标。又比如，用户想提高预期产品性能而只是简单地改进了设计，从表面上看用户的目的好像已经达到了，但如果新的设计对膜的厚度很敏感，除非改变工艺来降低制造公差，否则产品不太可能长期达到新设的产品性能要求。 我们在评估工艺公差时必须考虑如下一些因素： 厚度监控： 设计中每一层膜厚的精度都受到控制仪器本身精度的限制，一般我们讲的控制仪器是石英晶体微量天平（QCM）或光学监控仪，或两者同时使用。石英晶体微量天平的精确度大约是2%，而一个设计良好的光学监控仪，精度能达到千分量级。 54=, Z. 膜厚的不均匀性：无论监控仪精度怎样，它也只能控制真空室里单点位置的膜厚，一般来讲是工件架的中间位置。如果此位置的膜厚不是绝对均匀的，那么远离中心位置的基片就无法得到均匀的厚度。虽然屏蔽罩能消除表现为长期的不均匀性，但有些膜厚度的变化是由蒸发源的不稳定或膜材的不同表现而引起的，所以几乎是不可能消除的，但对真空室的结构和蒸发源的恰当选择可以使这些影响最小化。 时间变量：真空室里的沉积条件随着时间发生改变是常见的现象。在一轮运行过中，蒸发源的特性会随着膜材的消耗而改变，尤其是设计中涉及多层镀膜时，如果工艺过程需持续数个小时，真空室的热梯度也会上升。同时，当真空室内壁发生沉积变脏时，不同轮次的工效逐渐产生差异。这些因素虽然是渐进的并可以进行补偿，但依然应该将其视为系统公差的一部分。 湿度转换：薄膜一般多孔，使得它们的属性在诸多方面低于块状材料。其中一点就是在潮湿条件下，薄膜的微观空间充满水蒸汽，而在相对湿度降低时变干。水分的存在与否改变了
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