计算机测控系统概论

来源:网络  作者:网络转载   2019-10-08 阅读:453

 

写给我的兄弟姐妹们四――――――计算机测控系统概论既然决定把这写成连载的“长篇小说”,那么就要按部就班的慢慢来,一点点的充实和完善,今天就先讲讲概论一下“计算机测控系统”,让不太明白的人有个比较直观的认识。zui早用在工业控制上的是“基地式仪表”,其只具备简单的测量和功能,一般仅在现场或单表使用,不能和外界进行“信息传递”,操作人员只有到现场“巡视”才能知道“状况”后来为了适应企业等规模扩大的情况出现了“单元组合仪表”,就是把很多仪表安装在“集中控制室”,现场的信号统一送到控制室,一般是直流电流信号0-10mA或4-20mA。从上世纪70年代开始“DAS”出现了,人们将“计算机技术”引入到测量、模拟、逻辑控制领域,产生了“集中控制”。数据采集系统主要是巡回检测和数据记录与分析处理,但是不直接参与过程控制,对生产过程不直接产生影响。在此基础上又加上“输出控制单元”后出现了“DDC”,直接数字控制系统,这样计算机不仅“监视”,而且可以“参与”现场的控制了。计算机代替了“模拟调节器”,但是对生产过程产生影响的被控参数是给定和预先设定,控制过程中是不改变的。为了解决这个问题出现了“SCC”---监督控制系统,不仅可以给定值来控制,而且可以进行顺序、自适应等控制,出现了SCC+模拟调节器和SCC+DDC的控制系统;80年代出现了DCS,集中分散控制系统,这是“微处理器和微控制器”出现和广泛使用的结果,他的特点是:分散控制、集中操作、分级管理、分而自治、综合协调。于是出现了“工业对象”+“基本控制单元”+高速数据通道+监督计算机+管理计算机+CRT操作等,大型的系统结构。其实可以认为是“操作站+控制站+现场仪表”三层结构。再发展就出现了FCS,他与DCS的不同是实现了“工作站+现场总线智能仪表”的两层结构,国际标准统一后就可实现了真正的开放式的系统互连。而PLC的出现是伴随解决现场继电器控制而出现的,zui早用在多继电器系统中,也可以接到DCS中,从功能上说可以看做是DCS下出现的子系统,但是他的出现发展很快,保留了“梯形图”等工程编程语言同时吸收了DCS的特点后来加入了DI/DO/AI/AO等多中模块功能,目前和DCS的界限越来越模糊,目前的区别是通信协议和编译方式上有些不同而已,硬件功能上基本一样了!
标签: 测控
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