频谱分析仪的特别用法

    频谱仪对射频工程师来说应该不会陌生,它和网络分析仪,波形仪是三个最基本的测试仪器.和网络分析仪不同,频谱仪是用来分析对其未知的信号频率分量（频率和功率）,而网络分析仪是分析已知信号通过测试IC后的性能。
    详细的使用方法这里就不细谈了,大家可以查查网上资料或者操作手册就知.假设大家已经知道一些常用的参数,比如RBW,VBW,SPAN,Refence,ATT等这些常用参数了.这里谈谈一些特别的测试方法。
    1）测试PLL的相位噪声
    测试相位噪声我们可以用PLL分析仪,但是其实频谱仪也可以测试,一般RBW调成300Hz（有些老式的SPA可能没有这么高的带宽分解度）,然后把span设成偏移频率的2倍,比如测试10kHz频偏的相位噪声的话,SPAN设成20KHz,由相位噪声的定义可知,就是10kHz处噪声的功率密度和中心频率的功率密度的比值.比如10kHz的功率和中心功率差65dBc,即可推出PN=-65-10log（300）=-99dBc/Hz,注意是每Hz的噪声功率密度的比值。
    2）测试波形功率的时间变化
    有时侯我们需要观测功率随时间的变化,一般我们要用波形仪来测试,其实某些频谱仪也有这些功能,把SPAN设成”0”,相当于X轴就变成了时间轴,然后在测试段的功率有变化的时候,就能观测到功率变化量和过渡时间的情况了。
    3）测试信号的频率响应特性
    比如输出段要接个低通滤波器,我们要比较LPF接之前和之后的频率响应有多少变化,这时候可以把SG设成扫频,SPA设成”Maxhold”,SPA上捕捉到的信号就是最大功率（Carrier信号）的频响。
    在使用频谱仪的时候,有时侯Probe是带有固定增益的,测出的信号功率需要注意减掉这部分功率.另外测试相位噪声时,根据频谱仪的自身性能（SPA自身也是个接收系统,也有LO产生相位噪声）,所以一般在10M以外的测试结果误差比较大,10Khz以内的结果又可能精度比较差，需要注意这一点。

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