PCT老化箱(又名PCT高压加速老化试验机)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。
一、PCT老化试验箱箱体结构特点:
1、圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计。
2、圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品。
3、精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续200h。
4、自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,专利安全门把设计,箱内有大于常压时测试们会被反压保护。
5、在无试验负荷,无层架情况下稳定30分钟后测定的性能。
6、关于温度上升及下降时间,是指风冷式在周围环境温度为26℃±5℃时所测量的性能。
7、温湿度传感器设置于空调箱出风口处。
8、温湿度均匀度定义为:实验室几何中心点处,温湿度时的所测之资料。
9、以上数据性能,测量,计算方法参照GB5170、2、GB5170、5的方法测定。
二、PCT老化试验箱仪器特色:
1、选用的是最新式的的技能来操控,ASLI挑选的是进口微电脑来操控饱满蒸气温度,微电脑主动演算操控饱满蒸气温度。
2、实验箱的压表ASLI挑选有着主动水位操控器,而且会在水位缺乏时会有警示,在时刻操控器运用的是LED显现器,最新式的指针显现正负压表。
3、在实验箱中ASLI运用的契合工业安全规范的圆型内箱,选用了不锈钢的原型运用内箱成果,这种规划能够在实验中能够防止结露滴水。