X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律？

　　在我们生活的环境中有很多种不同的元素，这些元素能够组成形态各异性质各异的导体以及非导体材料，X荧光光谱仪则能够对这些材料进行检测分析，看材料中究竟含有哪些元素。那么X荧光光谱仪在检测分析时采用了哪些定律呢？
　　1、莫塞莱定律
　　莫塞莱定律是反应各个元素X射线特征光谱规律的一种实验定律，依靠莫塞莱定律进行分析的方式也是最可靠的方法之一。X荧光光谱仪在对材料进行分析时也会使用到这一定律，在分析时X荧光光谱仪能够对内层电子的跃迁产生的、表明X射线特征的光谱和原子序数一一对应起来，从而获得分析结果。
　　2、布拉格定律
　　该定律是一种可以反映晶体衍射基本关系的理论推导定律，同时，布拉格定律是波长色散型X荧光光谱仪所使用的分光原理，在进行材料检测分析的时候能够让不同元素不同波长的特征X荧光完全分开，使谱线处理工作变得非常简单，降低仪器检出限。
　　3、比尔-朗伯定律
　　比尔-朗伯定律是反应样品吸收状况的定律，涉及到理论X射线荧光相对强度的计算问题。X荧光光谱仪采用这一定律进行检测分析时，样品可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要将混合的X射线按波长分开，分别测量不同波长的X射线强度，以进行定性和定量分析。

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