IC卡动态弯曲双向扭试验机的适用及技术参数介绍

    IC卡动态弯曲双向扭试验机用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。

    本仪器针对性IC卡在国标GB/T16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验；完全符合以上标准。

    技术参数

    扭曲度：±15°±1°雙向d=86mm

    正反向各15°，总扭曲角度30°

    測試周期：1~9999次

    測試速度：彎曲扭曲30r/min及0.5Hz

    长边最大位移量为20mm(+0.00mm,-1mm)

    长边最小位移量为2mm±0.50mm

    短边最大位移量为10mm(+0.00mm,-1mm)

    长边最小位移量为1mm±0.50mm

    電壓：AC220V±5%

    外形尺寸：L670XW380XH220

    功率：35W

    儀器重量：70kg

    使用方法

    (1)仪器接通电源,将计数器,数值调到三个“0”,放上标准卡。

    (2)按扭曲启动按扭(此时只有点功能),看摇摆指针是否在±15°之间作往复运动。

    (3)按下弯曲启动按扭,使弯曲卡位处于距离最远,看指针分别在某一刻度,或者用卡尺测量台面到卡的高度；

    然后再按下弯曲启动按扭,使得弯曲卡位处于距离最近,看指针分别在另一刻度,或者用卡尺测量台面到卡顶端高度,两高度之差分别是10mm和20mm。