(1)取样代表性首先是镜下观测用样品对流程产物的代表性;其次是制作团矿光片时，矿样在团矿块中分布的均匀性。头一项代表性，只要取样时严格按照样品缩分方法取样，基本就能得到保证。矿样各矿物在团矿块中的 均 匀 分 布，主 要 靠 2个办法保证。一是制作团矿时，矿样与粘结剂要充分搅拌;其次是团矿的粘结剂加入量要适宜。千万不能过多。否则在团矿块凝聚过程中，矿物就会因比重不同而分层，造成矿物分布的不均匀性。
(2)连生体类型的划分 连生体中目的矿物含量大小，在整个矿样中显然是连续分布的，但在统计时，只是简单地归并成几类。例如：我们计入“1/2”这类连生体中的颗粒，目的矿物在每一粒中的含量决不都会是一半。而可能是0.6,0.55,0.5,0.45等。由此而造成的误差显然与统计连生体类型的划分有关。可以看出，连生体类型划分的愈细，统计结果与实际状况差距也就愈小。
(3)平面测定和实际立体状况之间的差别 此项误差当用实体显微镜观测时基本不存在。而在反光显微镜下观测团矿光片时，由于出露面积总是小于颗粒的实际表面。因此，不可避免地会产生连生体以单体形式出现的假象。从而造成单体数偏高的错觉。
(4)查数颗粒的多少 当然，颗粒数观测的愈多，愈精确。但实际统计时，也不可能无限制地增加颗粒数。理论和实践证明，在每一粒级中，只要查数到100 ~300粒目的矿物，即可保证90%以上的统计精度。
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