首先将流程产物脱泥、烘干，并筛分成选矿筛析通常采用的几个级别。称取各个级别矿样重量，计算各级别产率。然后从各筛级中均匀撮取2~58样，送交化验室分析各有关元素的含量。
实体显微镜测定法使用的矿样，经过上述处理后，一般即可供观测之用。反光显微镜测定法观测用的矿样，还需要在上面处理的基础上，做进一步处理。做法是：将各筛级的样品均匀撮取一部分(一般不少于5 ~ 10g，用粘 结 剂 团 矿，作 成 2cm× 2cm× 1cm左右的小矿块。然后磨制成可供镜下观测的光片或薄片。
如果是预先富集法，样品在脱泥、烘干、筛分之后，还要经过对目的矿物的富集这一步骤。常用的分离富集手段是重液和电、磁分离。因为观测用样品需要量一般仅几克或几十克，因此，只要操作认真仔细，分离富集效果还是很好的。每个筛级的样品，通过分离富集，被处理成相应的“精矿”和“尾矿”。 然后送交化验室，分析样品每个级别的“原矿”和“尾矿”的有用元素含量。至于每个级别的“精矿”则用同样的办法团矿后，磨制成光片或薄片，供镜下观测用。
(二)测定
样品制备齐后，就可着手在镜下统计、观测。当然实施统计之前，观测者首先必须在镜下对所要观测的矿物做出正确判断。矿物种类判断错误，后续的全部统计工作就失去了价值。因此，镜下矿物的识别，观测者一定要认真地做好。
获取单体解离度的镜下统计方式较多。其中比较实用且统计精度较高的还要数“过尺法”和“数粒法”。过尺法是在视域中安置一把目镜测微尺，拧动载物台上的机械台，使所有的矿物颗粒逐个的通过目镜尺，量测所有单体的颗粒总长和各类连生体中目的矿物的总长。用单体颗粒总长比上该矿物的总长〔单体总长加上连生体中该矿物总长〕即可得到目的矿物的单体解离度。采用数粒法时，正式观测前，要预先将连生体划分为 等几种类型〔比例数代表目的矿物在一粒连生体颗粒中占有的体积相对值〕然后一个视域接着一个视域，连续而不重复地查数目的矿物的单体数和各类连生体的颗粒数，并按表2-11-9的格式逐项记录。
表格中的浸染体，是指颗粒中目的矿物体积小于1/16的那些连生体。这类连生体对单体解离度的计算影响不大，但当分析流程产物中存在的问题时作用很大。因此，观测时需要将它们区分并单独记录下来。脉石是指产物中所有无用矿物而言。当这些无用矿物密度相差不大时，即可统归为脉石。如果密度相差甚大而且含量相近时，则应将脉石分为几类，然后分别统计并记录。
〔三)粒级单体解离度计算
实体显微镜测定法和反光显微镜测定法中的直接观测法，按上面的表格将观测结果记录下来后，用下列公式计算样品各粒级的单体解离度〔例如十 100目这个级别〕
观测颗粒总数：
反光显微镜测定法中的预先富集法，由于经过了分离富集，由观测记录结果，只能得到该粒级“精矿”的单体解离度L(e)。)，整个粒级目的矿物的单体解离度由下式计算得出：
上述计算公式的前提，是认定在分离的“尾矿”中，目的矿物全部都是呈连生体状态。
(四)流程产物中目的矿物单体占有率计算
流程产物经过观测、计算、整理，筛析各粒级中国的矿物含量及其单体解离度就完全清楚了。但从选矿生产的实际要求来看，不仅要了解矿物在某个粒级中的单体解离度，更需要知道全样中矿物的解离状况。因此，要在上面已有结果的基础上，进一步计算产物中矿物的单体占有率，即某个产物里矿物的单体解离度。这项整理运算工作，可按表2-11 - 10格式逐项进行。
脉石含量、脉石分布率、脉石单体占有率和目的元素(矿物〕的相应各项意义和计算方法大体一致。可参看上述有关说明。
注：筛级一一根据产物粒度和实际选矿厂生产状况，选取适宜的套筛;
产率一一筛析后各级产物量与全样量之比;
分析品位一一产物中元素的化验分析值。
目的矿物含量一一产物中要求富集的矿物含量与全样重量之比。
脉石矿物含量一一产物中要求舍弃的矿物含量与全样重量之比。计算方法和目的矿物含量相同。
统计品位一一根据显微镜观测整理的有用矿物含量结果，换算得到的目的元素含量。
目的矿物单体解高度一一根据显微镜观测得到的结果，整理计算出的每个粒级中目的矿物的单体解离度。
脉石矿物单体解离度一一根据显微镜观测结果，计算出的每个粒级中脉石矿物的单体解离度。
目的元素含量---全样中目的元素，分配在某粒级中的数量。各粒级元素含量之和，即为全样中元素的品位值。
目的元素分布率-- 全样中元素在各粒级中的分配比例。
目的矿物单体占有率一一目的矿物单体量在各粒级的分配值。各粒级占有率之和，即为全样中目的矿物的单体解离度。
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