X荧光测厚仪相关知识简单了解

X荧光测厚仪又称X射线荧光测厚仪，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。

X荧光镀层测厚仪工作原理：通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光，初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线，也就是我们通常所说的X荧光，X荧光被探测器探测到后经放大，数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。

X荧光测厚仪的优势特点：

*超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面

*易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果

*有助于识别镀层成分的创新型功能

*机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室

*按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的结果

*使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

*用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心

X荧光测厚仪应用范围：

*合金分析

*镀层厚度分析

*电镀液金属离子分析

*磁性介质和半导体元素分析 

*土壤污染元素分析

*过滤器上的薄膜元素分析

*塑料中的有毒元素分析