纳瑟 Nanosurf Flex-ANA 自动力谱成像原子力显微镜 .全自动纳米机械性能测量与分析的完美工具 瑞士直销*

全自动纳米机械性能测量与分析的完美工具

	高起伏样品或多个样品自动纳米机械性能分析
	针对不同模型来测量粘弹性、硬度、黏附力与压入深度
	智能软件自主处理测量需求
	样品高度起伏最大可达5mm，力谱曲线最大范围Z向可达100μm
	专用分析软件可用于大批量与复杂数据的轻松比对
	马上提出您的问题或者跟我们的应用科学家来讨论您的应用吧!

Nanosurf Flex-ANA系统是基于AFM的纳米机械性能分析的自动解决方案.Flex-ANA专门设计用来研究各种材料的纳米机械性能，特别对于细胞,组织,基因组,水凝胶与聚合物材料等，对于多个样品或者大起伏样品更有优势，主要通过力谱曲线与力谱成像测量来进行直观而自动的方式来进行.

大起伏样品与多个样品的纳米机械性能分析

Flex-ANA系统的主要特点集成了直观的实验条件设置、后处理工作流、可选硬件元件、清晰而设计新颖的控制算法. 利用图像预览可以在大样品或者多个样品上自定义测量位置，最大视场范围可覆盖32 mm × 32 mm的样品区域. 样品表面的起伏在5 mm以内都可以让系统自动进行测量!

Flex-ANA工作流示意图: 从测量到数据分析与比较(左图). 对应的Flex-ANA测量软件measurement software (右上图) 与分析软件(右下图).

根据需求样品智能软件自主处理

测量过程中，通过智能的算法来协调测量头的移动与自动化XYZ移动台的移动(32 mm × 32 mm × 5 mm 范围), 还可以选配一个100-μm Z向压电扫描器用作大范围的力谱测量. 为了适应样品的高起伏度, 专利技术的算法保持监测与优化样品高度，根据探针位置并相应驱动所有Z向元件. 因此, 对于软的或者粘性大的样品, 或者不管是范围在几个毫米的宏观粗糙度样品还是几个微米的微观粗糙度样品, 都可以轻松地解决.

专用高级分析软件并可用于大批量与复杂数据的比对

除了自动进行纳米机械性能测量外, Flex-ANA系统还提供高级的数据后处理与分析功能:

Large data sets are automatically organized and can be batch processed and analyzed using a variety of standard contact mechanics models.

Individual force curves inside maps can be reviewed, and proprietary force curve quality control helps exclude data compromised by e.g. undesired sample contact or contamination.

Results from independent measurements can be analyzed, filtered, and pooled into data sets according to your criteria.

Entire data sets can then easily be compared to other data sets and evaluated statistically.

Flex-ANA元件

	FlexAFM扫描头
	C3000控制器
	ATS 204自动移动台
	主动式隔振台
	5MP辅助光学相机
	高级计算机用于数据采集与分析
	Flex-ANA测量与分析数据
	可选100-μm Z-actuator