详细说明

　　颗粒图像仪EyeTech是新一代颗粒粒度和粒形仪。我们在粒度和粒形方有丰富的经验，为各种应用引入满足各种不同应用需求的粒径粒形方法。

　　激光粒度粒形仪

　　测量原理

　　粒径 (PSA)

　　EyeTech 激光粒度仪采用有名的激光遮挡法(LOT)。这是一种针对旋转的激光光束遮挡时间 的粒径技术。样品中颗粒被聚焦的He-Ne 激光扫描，该激光采用楔形棱镜，以200Hz的速度旋转。在角速度已知的情况下，每一颗粒的直径都可以用遮挡的持续时间来计算。这免除其它技术所需的对检测器灵敏度进行校正的必要性。

　　EyeTech 激光粒度仪具有高精度、可靠性和重复性。我们激光方能，每个颗粒的图像和粒形信息都存储在数据库里，方便查阅、比较和检索测量池具体配置。

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